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進(jìn)口庫倫測厚儀型號(hào)

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COULOSCOPE CMS2 /CMS2 STEP庫侖電解式測厚儀

庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法。 簡單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使該儀器成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）,以及各種電解速度。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。菲希爾庫侖測厚儀CMS2 STEP的特征是STEP測試功能（同時(shí)測定厚度和電位差）。 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測試。 鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。

CMS2特征：

?    大尺寸高分辨率的彩色顯示器
?   簡單的操作和圖示的用戶指導(dǎo)
?   使用V18支架實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)化測量
?   電解速度和測量面積的簡單選擇
?    電壓曲線圖形顯示
?   圖形和統(tǒng)計(jì)分析
?   多語言和計(jì)量單位可供選擇

CMS2STEP特殊功能：

?   同時(shí)測量鍍層厚度和電位差
?   銀參比電極的簡單準(zhǔn)備
?   可調(diào)節(jié)的電解電流

COULOSCOPE CMS2的應(yīng)用實(shí)例：電鍍緊固件，測量PCB板上的剩余純錫厚度，鍍鉻件以及浴室用品

 GalvanoTest 3000/2000庫侖測厚儀

德國EPK(Elektrophysik)公司庫侖鍍層測厚儀GalvanoTest 3000，應(yīng)用庫侖電量分析原理。其過程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍?？梢杂糜跍y量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?；w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。測量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。庫侖法確保測量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠，儀器使用簡便。測量操作由儀器的指令自主完成，操作者不需要專業(yè)知識(shí)。GalvanoTest是一種根據(jù)庫侖原理測量涂層厚度的設(shè)備，幾乎可用于所有電鍍的單層或多層涂層。 可以在金屬或非金屬上測量鉻，鎳，鎘，銅，黃銅，銀，金，錫，鋅等電鍍涂層。測量范圍：50 nm-75 µm / 0.002-3 mils。

Galvano Test庫侖測厚儀有兩種型號(hào)：

     。GalvanoTest 2000：電解液通過氣泵移動(dòng)
     。GalvanoTest 3000：由循環(huán)泵移動(dòng)的大量電解液可實(shí)現(xiàn)快速連續(xù)測量。 適用于非常小的零件并測量金層。

GALVANOTEST可以測量：

      。 可測實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層
      。 利用庫侖電量分析原理,測量鍍層、多層鍍層
      。 符合標(biāo)準(zhǔn): DIN EN ISO 2177
      。 可以測量70種以上鍍層/基體組合
      。 可以測量平面、曲面上的鍍層
      。 可以測量小零件、導(dǎo)線、線狀零件
      。 預(yù)置10種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn錫、Pb鉛、Cd鎬、Au金(需提供樣品確定}
      。 用戶可另設(shè)置8種金屬的測量參數(shù)